提供一種用于共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試的裝置，該裝置與一被測(cè)設(shè)備電性連接，包括FPGA芯片、直接數(shù)字頻率合成器、數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片、帶通濾波器、音頻功率放大芯片、耦合電路、隔離采樣電路和轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)，所述直接數(shù)字頻率合成器、FPGA芯片、數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片、帶通濾波器、音頻功率放大芯片和耦合電路依次電性連接，所述轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)通過(guò)隔離采樣電路與FPGA芯片電性連接，所述轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)與耦合電路電性連接。本發(fā)明將現(xiàn)有的任意波形發(fā)生器、功率放大、耦合等電路整合到一起，通過(guò)編制專(zhuān)用軟件研制成功專(zhuān)用于0Hz?150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試的電路。電路搭建、使用較為方便，信號(hào)幅值、頻率等指標(biāo)均滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)要求，較為顯著的提高了測(cè)試效率和試驗(yàn)的準(zhǔn)確性。

電磁兼容性測(cè)試是電氣、電子設(shè)備的重要評(píng)價(jià)過(guò)程。它由靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)以及0Hz-150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)等一系列的試驗(yàn)組成。IEC 61000-4-16,GB/T 17626.16等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)0Hz-150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)的實(shí)施方法作了明確的規(guī)定。簡(jiǎn)要來(lái)說(shuō)，在進(jìn)行該試驗(yàn)時(shí)，電源通過(guò)隔離裝置或去耦合網(wǎng)絡(luò)向被試設(shè)備供電，試驗(yàn)波形發(fā)生器通過(guò)耦合網(wǎng)絡(luò)向被試設(shè)備施加共模傳導(dǎo)騷擾信號(hào)。通過(guò)觀察被試設(shè)備的運(yùn)行狀況，來(lái)判斷其是否通過(guò)測(cè)試